Мікрофокусне джерело xray

З кутом радіації 40 градусів та 90 кВ, перевірте на порожнечі, шорти та пайки.

Опис

Опис товару

DH - Kv9040 - це мікро - фокус x - джерело Ray, інтегроване в єдину одиницю, незалежно розроблену та розроблену Dinghua. Маючи максимальну напругу 90 кВ та роздільну здатність зображення 5–10 мкм, вона в основному використовується для інспекції електронної промисловості, таких як 4-площина упаковки, 3C тестування акумуляторів, упаковка BGA, світлодіод та інспекція PCB.

Функція продукту

*‌Інтегрований дизайн‌ для легкого розбирання та встановлення

‌* 5–10 мкм роздільна здатність зображення‌ і ‌9,5 мм FOD‌, підходить для високої роздільної здатності -, High - Системи збільшення зображення

*Підтримує ‌Офлайн/онлайн -операція‌, ідеально підходить для стабільної тривалої -

*‌ Індустрія - Стандартний протокол зв'язку RS-232C‌ для легкої інтеграції

Параметр продукту

X - Регульований діапазон напруги променевої трубки (KV)	0~90
X - Діапазон регульованого струму променевого струму (μA)	0~200
Максимальна потужність трубки (W)	8
Роздільна здатність зображення* (мкм)	5/10
X - кут променевого випромінювання	40 градусів
Мінімальна фокусна/об'єктивна відстань (FOD) (мм)	9.5
Вага (кг)	≈10
Передача даних	RS-232c
Вхідна напруга (v)	24
Споживання електроенергії (W)	＜96W
Робоча температура (ступінь)	10~40
Температура зберігання (ступінь)	0~50
Операційна вологість (%RH)	20~85
Вологість зберігання (%RH)	20~85
Відповідність EMC	IEC/EN 61326-1
Застосовна версія операційної системи	Windows 7, 10 та 11

Ілюстрація продуктів

Наш мікрофокус x - Джерело променів спеціально розроблений для високого - точній перевірці електронних компонентів та зборів.
З максимальною напругою трубки 90 кВ та струмом трубки до 200 мкА він забезпечує чіткі, високі - знімання роздільної здатності для виявлення внутрішніх дефектів у дошках, напівпровідниках та інших щільних матеріалів. Система працює на вхідній напрузі 24 В, забезпечуючи стабільні та ефективні продуктивність у промислових умовах.
Оптимізований для мікрофокусних додатків, це x - джерело променя забезпечує різкі зображення з мінімальним спотворенням, що робить його особливо придатним для оглядової перевірки припою, внутрішнього виявлення тріщин та ідентифікації прихованих структурних дефектів. Його компактна конструкція дозволяє легко інтегрувати в системи інспекції ПХБ, зберігаючи стабільний вихід. Поєднання потужності проникнення 90 кВ та тонкого розміру мікрофокусу ефективно скорочує час перевірки.

Наш мікрофокус x - Джерело променя (робоча напруга 40–90 кВ) - це універсальний інструмент, призначений для високих - точній перевірці електронних компонентів та металевих деталей. Він широко застосовується в аналізі друкованих плат та материнської плати, а також у Die - інспекції кастингу для мобільного телефону, автомобільної та аерокосмічної галузі. Праворуч, показаний приклад Die - кидаючи частини з колодязя - відомого виробника мобільних телефонів. За допомогою цієї системи можуть бути чітко ідентифіковані дефекти, такі як тріщини, пори, порожнини усадки, нерівномірний розподіл матеріалу та внутрішні структурні недоліки.

Джерело забезпечує максимальний струм трубки 200 мкА, що підтримується стабільною вхідною напругою 24 В, забезпечуючи надійну роботу навіть у вимогливих умовах. Його дизайн мікрофокусу виробляє різке, спотворення - безкоштовні зображення, що дозволяє інженерам точно аналізувати тонкі структурні відмінності. Для електронних застосувань він особливо ефективний при інспекції спільного припою, аналізі мікросхем BGA та напівпровідниковій упаковці. Для металевих деталей його сильне проникнення дозволяє глибоким спостереженнямбезкомпромісЯсність зображення.

Завдяки компактній конструкції, джерело променя 40–90kv x - легко інтегруватися в системи інспекції, надаючи виробникам потужне рішення для контролю якості, науково -дослідних та дослідницьких аналізів. Поєднуючи деталі тонкої фокусування з сильним проникненням, це підвищує надійність інспекції, одночасно значно скорочуючи час перевірки.